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yongquan1011 发布于2006-7-11 14:09 51 次浏览 10 位用户参与讨论
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yuzhengjay 发表于 2007-8-19 17:18:53
小爱:
    我发现,现在大部分人都在设计位移度检具时,将M相关性强行加入进去了,而在产品图中 ,一般并没有相关性的形位公差要求,
就像本例中的斜孔一样,斜孔既有直径公差,又有位移度公差,但原始设计者一般不会加入M相关性符号,也就是说,原始设计者要求两
个设计公差同时能满足,如果我们在设计检具时,将事情简单化处理,自说自话将M相关性加入进去,就会产生象现在本设计中出现的
通止尺寸相差很大的检测插销,当我们采用这样的检测插销通过了一个接近位移度极限的孔位时,其实孔径公差早就超差,相似的案例
比比皆是.
    所以位移度检具需要单独设计,单独测量,并且在该位移度检测时所要求的原始定位基准具有不同的形状时,采用不同的确定原始
定位基准的设计结构.
                                             07.8.19
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