"面轮廓度"要用什么检具来测量?如果后面有三个基准面,是不是就要测量3组 ... ...

"面轮廓度"要用什么检具来测量?如果后面有三个基准面,是不是就要测量3组数据?求教诸位高手!

我想是不是用成形检具来检测哟?这个问题我真还没遇到过

面轮廓度
    控制空间曲面的形状误差
    公差带：包络一系列直径为公差值 t 的球的两包络面之间的区域。球心应位于理想轮廓面上。
    标注应在法线上
    测量：三坐标测量仪

仪器原理

    如图1所示，结构光法以非接触式几何光学法测量微型元件的形貌轮廓作为理论基础，由光栅投射器将被调制过的编码条纹光栅投射至待测物表面，再以两台数码摄像机作取像动作，得到投射到物体表面的变形的条纹图像，条纹的变形程度取决于光栅投射器与摄像机之间的相对位置和物体表面形廓（高度）。直观上，条纹在法线方向的位移（或偏移）与物体表面高度变化成正比，条纹的扭结表示平面的变化，不连续表示表面的物理突变或间隙。当光栅投射器与数码摄像机之间的相对位置一定时，由摄像机摄得变形的条纹图像，通过工作站计算机来解调图像信息，最后利用合并Gray码与相位移法计算得到其绝对相位，配合三角法测量原理，便可重现物体表面形廓。

   

    图1中，P点为两台数码摄像机光轴的交点（光学三角形的一个顶点），α为两台数码摄像机光轴的夹角，0010010为光栅的编码。

    图2为结构光法成像模型，其中(xw,yw,Zw)为世界坐标系，（xc，yc，zc）为摄像机坐标系，(X，Y)为图像坐标系。摄像机坐标系的原点在世界坐标系中的坐标为（Ix,0,Iz）。将世界坐标系下的点变换到摄像机坐标的方法为：首先作平移［-Ix,0,Iz〕，然后绕OcXc。轴旋转180°，再绕OcYc轴旋转β角，最后再变换到图像坐标系中。世界坐标系与摄像机坐标系坐标变换可用下式来表示：

   

    设结构光人射平面通过点（O，O，Pz），其方程为：

   

    式中，θ为结构光人射平面与世界坐标系Z轴的夹角。

   

    图像坐标系与摄像机坐标系变换关系为：

   

    式中,Xu,Yu为像素点在图像坐标系中的坐标；f为摄像机焦距。  由式(1)、（2）、（3）可以得到被测物体表面上任一点在世界坐标系下的坐标(xw，yw,zw)与图像坐标系的变换关系，即结构光三维成像模型为：

   

    式中，

   

    结构光法三维成像模型中的Pz，Ix，Iz，θ，β，f等参数值通过仪器的三维空间信息与摄像机采集到的图像信息的对应关系来确定。

面轮廓度误差的测量方法

    面轮廓度误差的测量方法包括仿形装置测量、截面轮廓样板测量、光学跟踪轮廓测量仪测量以及三坐标测量装置测量等。前3种测量方法要求做出理论轮廓样板后才能测量。由于理论轮廓样板制作非常困难，因此该测量方法适合于一种零件大批量生产过程中的检验。而采用三坐标测量装置进行测量时无需轮廓样板，只需要零件的CAD数学模型（零件的三维设计图形），因此该测量方法可应用于任何场合且测量数据可靠。

    目前，用来采集物体表面三维坐标的测量设备和方法多种多样，其原理也各不相同。根据测量测头是否和零件表面接触可分为接触式与非接触式两类。

    接触测量法以三坐标测量机测量为典型代表。三坐标测量机的测量精度高，对环境（如：温度、湿度、防振等）要求也高。由于测量时测头在工件上要逐点测量，所以测量速度较慢。另外还要求被测零件的材质不能太软、尺寸不宜过大且不易变形。

    非接触测量法以结构光法为典型代表。该测量方法一次获取物体表面的数据（点坐标）多，测量范围大，对被测量物体的材质没有要求，特别适合于面积大且易变形的覆盖件类零件的测量。又由于结构光三维视觉对景物或物体三维信息提取方便、快捷，且大量的点云数据在计算机中处理快捷、准确，因此在测量中占有重要地位。ATOS测量系统是这种方法的典型代表。

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复杂

三坐标测量仪。

应该直接用三次元测量，至于楼上所介绍的非接触式几何光学法测量仪器当然也可以。
至于测量几组数据，要根据图纸所要求的基准面来确定，若轮廓度标注中的基准面中这三个面都有，那么当然要测三组。如果只有一个基准面要求，就以此基准面为准测一个就可以了。