proe公差分析

插件介绍如下。

由Sigmetrix所开发的知名公差分析软件「CETO  6 σ」，可以在设计制程中，与计算机辅助软件 CAD 无接缝结合，方便针对产品细部，进行修改落实质量管理。利用CETO  6 σ可分析出的大量数据，如：最大值、最小值、平方根公差、尺寸敏感度、尺寸贡献度、Cpk (综合制程能力指数)…等，各项数值与设计图型结合并且加以应用。

其中尺寸标注是公差分析当中非常重要的一环。若尺寸标注错误，则会大量减低公差分析的准确性；以往尺寸标注皆依赖人工的方式达成，若是设计者出现失误，极可能忽略正确且必要的标注尺寸；如何减少尺寸标注的错误，一直是许多机构设计者关注的焦点。

藉由公差分析了解质量尺寸的公差分布，调整公差条件和产品设计，如；超过标准规格与否，以控制产出质量。

尺寸敏感度：了解所有尺寸中，哪个部分微调后，对设计结果的差异性与影响程度。
尺寸贡献度：了解所有尺寸中，调整哪个尺寸对整体设计的影响最大。

Cpk（综合制成能力指数）值＆标准偏差：是综合制程准确度Ca与制程精密度Cp两值之指数计算，设计值的质量尺寸的标准偏差在多少的范围。

有兴趣的可以下来看看。附件为英文版的，下载后放到同一个文件夹解压即可。