红外热像检测技术系列学术研讨会活动安排

红外热像检测技术系列学术研讨会活动安排

        应北京维泰凯信新技术有限公司邀请，美国 TWI 公司总裁斯蒂夫博士将于2011年4月23日-29日访华。斯蒂夫博士是红外热像检测技术方面国际知名学者，美国无损检测学会（ASNT）红外检测的Ⅲ级教师，美国材料与试验协会红外热像检测标准E 2582 – 07的起草人。他不仅有独到的理论研究成果，而且有丰富的实际应用经验。

        以斯蒂夫博士访华的契机，为了推广红外热像检测技术，促进该技术在我国国民经济各领域的应用，无损检测学会非常规检测专业委员会将在上海、成都、北京等地举办红外热像检测技术专题系列研讨会，各地研讨会分别由《无损检测》杂志社、成飞集团无损检测中心和首都师范大学、北京维泰凯信新技术有限公司等单位承办。研讨活动主要内容包括：
        1、斯蒂夫博士将介绍该技术在美国航空、航天、电力、材料、石化等领域成功的应用和最新研究进展；
        2、TWI专业红外热像检测设备的现场演示、试验；
        3、首都师范大学介绍美国ASNT红外检测Ⅲ级证书的取证的经验；
        4、与会代表的研究成果与应用经验交流。
        有兴趣参加者可根据如下拟定的日程选择适合的时间、地点参加，并提前报名，以便安排。
        1、2011年4月24日：在上海材料研究所大会议室举办报告和学术交流会。
        2、2011年4月25日：在成都成飞宾馆举办报告和学术交流会。
        3、2011年4月28日：在北京首都师范大学举办报告和学术交流会。
        此外， TWI公司在4月27日-4月29日期间还将参加第五届中国国际无损检测应用技术展览会，在北京中国国际贸易中心设有展位（3098），现场将有设备展示和现场实验。
        所有研讨会活动不收费，旅差、食宿费用参加者自理。有兴趣参加者，请于3月15日前报名，以便发送正式通知：

上海：
《无损检测》编辑部，符艳
电话：021-65556775-225
传真：021-65544911
地址：200437　上海市邯郸路99号
电子邮件：
mailto:ndt@mat-test.com


成都：
成飞集团无损检测中心，陈友林
电话：028-87408640
电子邮件：
mailto:youlingc@163.com


北京：
首都师范大学物理系，陶宁、李晓丽
电话：010-68902940，68980976 传真：68980976
电子邮件：
mailto:lixiaoli.127@163.com



无损检测学会
非常规检测专业委员会
2011-2-11

liaojieyixie